[发明专利]一种发光二极管性能检测系统及检测方法

摘要

本发明涉及电子加工领域，特别涉及一种发光二极管性能检测系统及检测方法，包括放置箱和检测架，放置箱的顶部开设有第一插槽，第一插槽内插设有旋转盘，旋转盘内对称开设有通槽，通槽均与放置槽对称设置并相连通，旋转盘的外侧开设有齿槽，放置箱的一侧固定连接有旋转电机，旋转电机的输出端固定连接有齿轮，齿轮与齿槽对称设置并相啮合，旋转盘的顶部设有限位块，限位块内开设有限位槽，限位块的底部对称固定连接有第一伸缩杆，第一伸缩杆的一端均固定连接在放置箱的顶部。本发明可以快速的对发光二极管进行批量检测，提高了检测效率，同时对需要检测的发光二极管进行整理码放。进一步提高了检测效率，适合推广。