[发明专利]一种基于扫描振镜的窄带光谱分析系统在审

专利信息
申请号: 202010035756.5 申请日: 2020-01-14
公开(公告)号: CN111220270A 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 盛秀堂;其他发明人请求不公开姓名 申请(专利权)人: 安徽艾华测控技术有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02;G01J3/06
代理公司: 北京开林佰兴专利代理事务所(普通合伙) 11692 代理人: 刘帅帅
地址: 230000 安徽省合肥市蜀山区经济开发区*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种基于扫描振镜的窄带光谱分析系统,包括进光孔、滤光光路、出光孔、光电探测器和光谱数据处理模块;滤光光路包括准直镜、扫描振镜和聚焦镜,待测信号光从进光孔入射,经准直镜形成平行光,经过扫描振镜,由聚焦镜汇聚至出光孔;光电探测器位于出光孔后端,将光信号转化为电信号传递给光谱数据处理模块;扫描振镜的反馈控制信号输出端与光谱数据处理模块连接;光谱数据处理模块应用内置模型算法,计算给出待测信号光的窄带光谱信息。本发明能够实现待测光源的窄带光谱分析,具有灵敏度高,速度快,结构简单的优点。
搜索关键词: 一种 基于 扫描 窄带 光谱分析 系统
【主权项】:
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