[发明专利]用于检查存储器装置的擦除阶段的方法在审
| 申请号： | 201980096960.3 | 申请日： | 2019-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN113906508A | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | A·特罗亚;A·蒙代洛 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C7/04 | 分类号： | G11C7/04;G11C16/16;G11C16/26;G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种包含至少一存储器单元阵列和相关联解码和感测电路系统和存储器控制器的非易失性存储器装置，以及一种用于检查所述非易失性装置的擦除阶段的方法；所述方法包括：执行至少一存储器块的动态擦除操作；将所述动态擦除操作的至少内部块变量和/或已知模式存储于虚设行中。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检查 存储器 装置 擦除 阶段 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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