[发明专利]离子分析装置在审
| 申请号： | 201980094927.7 | 申请日： | 2019-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN113678229A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 高桥秀典;浅川大树 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所;国立研究开发法人产业技术综合研究所 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种离子分析装置，用于分析通过对源自试样成分的前体离子照射自由基而生成的产物离子，所述离子分析装置具备：反应室(2)，其被导入前体离子；自由基照射部(5)，其生成并照射规定种类的自由基；标准物质供给部(11)，其向反应室(2)分别供给多种标准物质，所述多种标准物质的自由基加成反应的活化能是已知的，且该活化能的大小不同；离子测定部(4)、(92)，其对通过照射自由基而由源自标准物质的前体离子生成的规定的产物离子的量进行测定；以及自由基温度计算部(93)，其根据规定的产物离子的量来求出发生了自由基加成反应的自由基量，基于针对多种标准物质分别得到的该自由基量与活化能的关系来求出自由基温度。 | ||
| 搜索关键词： | 离子 分析 装置 | ||
【主权项】：
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