[发明专利]用于快速且准确的痕量气体测量的系统和方法在审
| 申请号： | 201980076933.X | 申请日： | 2019-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN113167652A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 李永泉;C·洛佩斯 | 申请（专利权）人： | 赛默飞世尔科技公司 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 周全;陈洁 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 描述一种用于测量痕量气体浓度的系统的实施例，所述系统包括：激光吸收光谱仪，配置成检测来自痕量气体的吸光度测量值，以及对应于气室中的环境的温度值和压力值；和计算机，具有存储于其上的可执行代码，所述可执行代码配置成进行包括以下操作的方法：接收所述吸光度值、所述温度值和所述压力值；限定与所述痕量气体相关联的拟合范围；使用所述温度值和所述压力值作为模型参数将所述拟合范围中的曲线拟合模型应用于所述吸光度值；和产生所述痕量气体的浓度测量值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 快速 准确 痕量 气体 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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