[发明专利]具有改进的反射几何结构的能量分散X射线衍射分析仪在审

专利信息
申请号: 201980075957.3 申请日: 2019-10-15
公开(公告)号: CN113167747A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 詹姆斯·理查德·蒂克纳;乔尔·奥德怀尔 申请(专利权)人: 联邦科学和工业研究组织
主分类号: G01N23/20008 分类号: G01N23/20008;G01N23/20091;H01J35/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王萍;高雪
地址: 澳大利亚澳大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了一种用于工艺流或样品中的材料的矿物学分析的在线能量分散X射线衍射(EDXRD)分析仪。该分析仪包括:准直X射线源,用于产生多色X射线的发散束;以及能量分辨X射线检测器;以及基本上X射线透明构件,其具有回转体的形式,该回转体绕该准直X射线源与该能量分辨X射线检测器之间的中心轴圆形对称,X射线透明构件的外表面邻近待分析的材料定位。初级束准直器邻近基本上X射线透明构件设置或设置在基本上X射线透明构件内,以基本上防止从源发射的多色X射线直接透射到检测器。该分析仪被配置为使得多色X射线的发散束被导向该基本上X射线透明构件,并且其中该能量分辨X射线检测器收集由该材料衍射的该X射线束的一部分并且输出包含所收集的衍射X射线的能量信息的信号。
搜索关键词: 具有 改进 反射 几何 结构 能量 分散 射线 衍射 分析
【主权项】:
暂无信息
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