[发明专利]检测装置、半导体装置在审
| 申请号： | 201980068262.2 | 申请日： | 2019-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN112840568A | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 原田伸太郎;池田隆之 | 申请（专利权）人： | 株式会社半导体能源研究所 |
| 主分类号： | H03K21/00 | 分类号： | H03K21/00;G11C19/28;H01L21/8234;H01L27/088;H01L29/786 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 宋俊寅 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 降低半导体装置的功耗。半导体装置包括由动态电路构成的锁存电路。锁存电路包括具有译码功能的第一电路、多个电容器、多个时钟输入端子、信号输入端子、第一输出端子及第二输出端子。在第一时钟信号为“H”信号的期间，第一电容器的电位根据第一电路的译码结果而被刷新。在第二时钟信号为“H”信号的期间，第二电容器的电位根据第一电容器的电位而被刷新，第一输出端子接收第二电容器的电位作为第一输出信号。在第三时钟信号为“H”信号的期间，第三电容器的电位根据第二电容器的电位而被刷新，第二输出端子接收第三电容器的电位作为第二输出信号。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 半导体 | ||
【主权项】：
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