[发明专利]宏观检验系统、仪器和方法在审
| 申请号： | 201980063455.9 | 申请日： | 2019-10-03 |
| 公开（公告）号： | CN112840351A | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 马修·C·普特曼;约翰·B·普特曼;约翰·莫菲特;杰弗里·安德烈森;斯科特·波齐洛约拉;朱莉·奥兰多;迈克尔·莫斯基 | 申请（专利权）人： | 纳米电子成像有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/20 | 分类号： | G06K9/20;G06K9/36;G06K9/60;G02B21/00;G02B21/06;G02B21/26;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘凤玲 |
| 地址： | 美国俄亥俄州*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 所公开的技术涉及一种检验仪器，该检验仪器包括台、成像设备、透镜和多个灯；该台被配置为保持样品以供检验；该成像设备具有包围该台的至少一部分的视场以观察保持在台上的样品；该透镜具有包围保持在台上的样品的视野；该多个灯布置在可移动平台上。该检验仪器还可包括控制模块，该控制模块被配置为控制台的位置、可移动平台的标高和透镜的焦点。在一些实施方式中，该检验仪器包括图像处理系统，该图像处理系统被配置为用于从成像设备接收图像数据，分析图像数据以确定样品分类，并且基于样品分类自动选择照明配置文件。还考虑了方法和机器可读介质。 | ||
| 搜索关键词： | 宏观 检验 系统 仪器 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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