[发明专利]光子计数型放射线检测器及使用该光子计数型放射线检测器的放射线检查装置在审
| 申请号： | 201980054560.6 | 申请日： | 2019-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN112585503A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 角岛邦之;佐佐木亮人;佐佐木敦也;平林英明 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝高新材料公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24;H01L31/08 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘英华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： |
一种光子计数型放射线检测器，具备单元结构，该单元结构包含基板和设置于所述基板之上且供放射线入射的外延层，在将所述基板的厚度设为t |
||
| 搜索关键词： | 光子 计数 放射线 检测器 使用 检查 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝;东芝高新材料公司，未经株式会社东芝;东芝高新材料公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980054560.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：发送装置、发送方法、接收装置和接收方法
- 下一篇：分子筛和制造分子筛的方法
