[发明专利]同位素质谱法有效

专利信息
申请号: 201980054472.6 申请日: 2019-08-13
公开(公告)号: CN112640031B 公开(公告)日: 2023-10-03
发明(设计)人: J·M·埃勒;S·C·牛鲍威;M·J·斯威多斯基;J·戈利普-拉明 申请(专利权)人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司;加利福尼亚技术学院
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陶家蓉;杨昀
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种用于确定分子的同位素概况的方法。所述同位素概况指示所述分子的同位素含量。所述方法包含在质量窗口中对所述分子的离子进行质量选择,所述质量窗口不包括单同位素分子离子的质量,且包括所述单同位素分子离子的至少一个同位素变体的质量。所述方法包含将质量选择的离子片段化成片段离子,对一个或多个所述片段离子执行质量分析以产生质谱,以及确定所述分子的同位素概况,所述同位素概况包含至少一个数据值。根据所述质谱中多个峰的强度来计算片段离子的每个数据值。提供了一种计算机程序。提供了一种质谱系统。提供了一种用于鉴别样品的方法。
搜索关键词: 同位 素质
【主权项】:
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