[发明专利]离子迁移率谱仪与质谱仪的耦合在审

专利信息
申请号: 201980046924.6 申请日: 2019-05-14
公开(公告)号: CN112840434A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: A·M·哈米德;G·A·安德森;J·D·德博尔 申请(专利权)人: 莫比莱昂系统有限公司
主分类号: H01J49/06 分类号: H01J49/06;H01J49/10;H01J49/26;G01N27/623
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 舒雄文
地址: 美国宾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种离子转盘包括第一表面和与第一表面相邻的第二表面。第一和第二表面限定离子限制体积。第二表面包括电极的第一内部阵列,电极的第一内部阵列沿第一路径布置并且被配置成在第一路径上的第一位置处接收第一离子分组。电极的第一内部阵列被配置成产生多个势阱,多个势阱包括第一势阱和第二势阱。第一离子分组包括具有第一迁移率的离子的第一子分组和具有第二迁移率的离子的第二子分组,并且第二离子分组包括具有第一迁移率的离子的第三子分组和具有第二迁移率的离子的第四子分组。
搜索关键词: 离子迁移率 质谱仪 耦合
【主权项】:
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