[发明专利]被检测物分析方法在审
| 申请号： | 201980045732.3 | 申请日： | 2019-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN112384788A | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 藤原一彦;丸山芳弘 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦;程采 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的被检测物分析方法的一例包括：混合步骤(S11)，将被检测物、金属离子的溶液和还原剂混合而制作混合液；金属微小结构生成步骤(S12)，通过混合液中的还原剂的还原作用将混合液中的金属离子还原，在支撑体上生成金属微小结构，并使被检测物或来自被检测物的物质附着于金属微小结构；测定步骤(S15)，对支撑体上的金属微小结构照射激发光，测定由该激发光照射产生的拉曼散射光的光谱；和分析步骤(S16)，基于拉曼散射光的光谱对被检测物进行分析。由此，能够实现可容易地利用高效率的SERS分光对更多种类的被检测物进行分析的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 分析 方法 | ||
【主权项】：
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