[发明专利]具有改善的读取性能的分裂栅闪存单元在审

专利信息
申请号: 201980041277.X 申请日: 2019-06-17
公开(公告)号: CN112292729A 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: S·达里亚纳尼;M·G·马丁;G·费斯特斯 申请(专利权)人: 微芯片技术股份有限公司
主分类号: G11C16/04 分类号: G11C16/04;G11C16/26
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈斌
地址: 美国亚*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开的实施方案提供了用于改善分裂栅闪存单元中的读取窗的系统和方法,例如,通过在单元读取操作期间用非零(正或负)电压偏压控制栅端子来改善或控制该单元的擦除状态读取性能或编程状态读取性能。操作分裂栅闪存单元的方法可以包括在该单元中执行编程操作、执行擦除操作和执行读取操作,其中每个读取操作包括向字线施加第一非零电压,向位线施加第二非零电压,以及向控制栅施加第三非零电压VCGR
搜索关键词: 具有 改善 读取 性能 分裂 闪存 单元
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于微芯片技术股份有限公司,未经微芯片技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201980041277.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top