[发明专利]调试处理器的方法有效
| 申请号： | 201980033448.4 | 申请日： | 2019-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN112136116B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 埃里克·W·希弗 | 申请（专利权）人： | 超威半导体公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人： | 樊英如;张华 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于基于在所制成处理器上执行随机创建且随机执行的可执行程序来设计处理器的方法。通过结合高度特定的测试生成约束规则在测试所述处理器时在多个级处实现随机化，实现对微架构特征的高度聚焦的测试，同时以强调此特定特征的方式应用高度的随机排列。这允许检测和诊断所述处理器中难倒传统测试方法的错误和漏洞。一旦检测并诊断出所述错误和所述漏洞，然后就可重新设计所述处理器以便不再产生异常情况。通过消除所述处理器中的所述错误和所述漏洞，可制成具有改进的计算效率和可靠性的处理器。 | ||
| 搜索关键词： | 调试 处理器 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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