[发明专利]表面光洁度触针在审
| 申请号： | 201980027603.1 | 申请日： | 2019-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN112292576A | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 史蒂芬·爱德华·卢默斯;M·J·A·赫姆斯 | 申请（专利权）人： | 瑞尼斯豪公司 |
| 主分类号： | G01B7/34 | 分类号： | G01B7/34;G01B5/28 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 谢攀;刘继富 |
| 地址： | 英国格*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 描述了一种用于多向扫描探测头(22)的表面光洁度触针(50；190)。该触针包括具有纵向轴线(L)的长形触针轴(52；120；140)以及从长形轴(52；120；140)突出的用于接触待测量的表面(70，72)的一个或多个接触元件(56；124，126；144，146，148；196，198)。一个或多个接触元件(56；124，126；144，146，148；196，198)被配置成能够在相对于表面(70，72)沿与纵向轴线(L)不平行的测量方向(M1，M2；M3)移动触针轴(52；120；140)期间测量表面光洁度。多向扫描探测头(22)可以由坐标测量机或机床承载。还描述了相关联的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 表面光洁度 | ||
【主权项】：
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