[发明专利]用于持续确定薄膜的电阻张量的所有分量的方法在审
| 申请号： | 201980020739.X | 申请日： | 2019-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111886506A | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | T·科祖比 | 申请（专利权）人： | 赫姆霍兹-森德拉姆德雷斯顿-罗森多夫研究中心 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R27/02 |
| 代理公司： | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人： | 金辉 |
| 地址： | 德国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明涉及用于持续确定薄膜(例如各种类型的薄膜电阻器和薄膜传感器)的电阻张量的所有分量的方法。本发明提供了用于持续确定薄膜(例如各种类型的薄膜电阻器和薄膜传感器)的电阻张量的所有分量的方法，其中使用最少数量的触点对薄膜的电阻张量的所有分量进行持续确定，无需对触点进行切换。这在任意形状的均匀薄膜部分(T)中具有至少三个彼此相隔一定距离地布置的触点(K |
||
| 搜索关键词： | 用于 持续 确定 薄膜 电阻 张量 所有 分量 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赫姆霍兹-森德拉姆德雷斯顿-罗森多夫研究中心，未经赫姆霍兹-森德拉姆德雷斯顿-罗森多夫研究中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980020739.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：半导体装置用Cu合金接合线
- 下一篇：骨移植替代物及其制造方法
