[发明专利]视野检查装置、视野检查装置的控制方法以及视野检查程序在审
申请号: | 201980020121.3 | 申请日: | 2019-03-06 |
公开(公告)号: | CN111867444A | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 井上智;木村伸司;山中健三 | 申请(专利权)人: | 克瑞托医疗系统股份有限公司 |
主分类号: | A61B3/024 | 分类号: | A61B3/024 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种能够缩短视野检查所需的时间并且得到精确的检查值的视野检查装置、视野检查装置的控制方法以及视野检查程序。视野检查装置具有:第一概率密度函数获取部,其进行工序(1),在工序(1)中,得到与通过第一次的视野检查得到的结果值x1相对应的概率密度函数f(x1);刺激阈值决定部,其进行工序(2),在工序(2)中,根据x1的范围来设定刺激阈值t1以将概率密度函数f(x1)的概率密度分开;检查结果获取部,其进行工序(3),在工序(3)中,得到在第一次的视野检查中是否得到t1以上的结果的检查结果;第二概率密度函数获取部,其进行工序(4),在工序(4)中,得到从概率密度函数f(x1)减少t1以上或者小于t1的概率密度而形成的概率密度函数f(x2);以及判定部,其进行工序(5),在工序(5)中,判定是否成为概率密度函数f(x2)的标准偏差σ收敛于小于规定值的状态。 | ||
搜索关键词: | 视野 检查 装置 控制 方法 以及 程序 | ||
【主权项】:
暂无信息
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