[发明专利]透明或半透明材料微观缺陷检测系统及方法在审
申请号: | 201980005534.4 | 申请日: | 2019-04-04 |
公开(公告)号: | CN111316090A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 王星泽;闫静 | 申请(专利权)人: | 合刃科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/89;G01N21/896 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种透明或半透明材料微观缺陷检测系统及方法,检测系统包括:相干光源(10),用于出射相干光束扫描透明或半透明的检材;光电传感器(20),用于采集所述检材的散射光强成像;控制器(30),用于获取与扫描位置对应的所述散射光强成像;对散射光强成像进行傅里叶变换,得到相应的幅度谱和相位谱,获取所述幅度谱和相位谱的截止频率;所述截止频率与所述扫描位置及对应的相对采集位置对应;监测所述截止频率不属于频率阈值范围时的扫描位置,将该扫描位置作为缺陷位置,根据所述缺陷位置确定缺陷;频率阈值范围为预先根据洛伦茨‑米氏理论计算出的,与所述相对采集位置对应的基于非纯净介质光散射的参考值范围。 | ||
搜索关键词: | 透明 半透明 材料 微观 缺陷 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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