[实用新型]老化测试盒及双侧老化测试柜有效
| 申请号： | 201922068707.7 | 申请日： | 2019-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN211402572U | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 王雪成 | 申请（专利权）人： | 深圳市万福达精密设备股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 晏波 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种老化测试盒及双侧老化测试柜，其中，该老化测试盒包括底座和电路板。所述底座设置有用于放置电子产品的产品放置槽和用于与所述电子产品的充电插口连接的接口，且一个所述产品放置槽对应一个所述接口，所述底座至少相对的两侧面设置有连接器；所述电路板设置于所述底座内，所述电路板分别与所述接口以及所述连接器连接。老化测试盒通过设置在相对两侧的连接器与双侧老化测试柜连接，方便适配双侧老化测试柜，使得双侧老化测试柜不需要设置旋转机构，能够简化双侧老化测试柜结构，减小双侧老化测试柜的尺寸，减少双侧老化测试柜的占地面积。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 | ||
【主权项】：
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