[实用新型]一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置有效

专利信息
申请号: 201921994532.6 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN211120958U 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 周佳;刘桂刚;郑德旭;王金友;李华;肖冰山;阮彬标;贺钰林;王梦磊;姚凯;贺朝靖;戴猛;崔甫超;赵兴保 申请(专利权)人: 福建福清核电有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/24;G01B11/02;G01B11/26;G01N23/04
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 任超
地址: 350318*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 一种双壁透照射线检验定位射线源的测量装置,包括角度尺,角度尺为0度至90度测量的角度尺,直角处位置为0点,0°方向垂直于被检对象表面,90°方向平行于被检对象表面,在0点位置固定旋转激光笔;通过设计一种易携带、易操作集射线检验焦距以及射线源偏离角度(或射线源偏离距离)精确测量功能的装置,便于射线检验人员或射线检验质量控制人员对射线检验焦距及射线源偏离角度(或射线源偏离距离)进行准确测量定位,提升双壁双影或双壁单影射线检验关键参数:焦距和射线源偏离角度(或射线源偏离距离)的准确性,进而提升射线检验灵敏度以及缺陷检出率。
搜索关键词: 一种 透照 射线 检验 定位 测量 装置
【主权项】:
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