[实用新型]一种基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置有效
| 申请号： | 201921701318.7 | 申请日： | 2019-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN211529620U | 公开（公告）日： | 2020-09-18 |
| 发明（设计）人： | 谢登煌;卢浩 | 申请（专利权）人： | 深圳市晶存科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 梁炎芳;谭雪婷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种一种基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置，包括：治具架和设置在治具架上的展讯SOC测试控制模块、显示模块、电流检测模块、开关控制模块和测试架；开关控制模块一端与外界电源连接，其另一端与展讯SOC测试控制模块连接，电流检测模块串联在展讯SOC测试控制模块和测试架之间，显示模块与SOC测试控制模块连接；SOC测试控制模块包括有展讯平台处理器，用于控制整个测试系统；开关控制模块用于给整个装置的断电和上电；电流检测模块用于显示线路的电流变化，测试架用于放置连接被测试的LPDDR4芯片。本实用新型技术方案旨在提出一种针对性强，实用简便，测试性能高的基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 平台 lpddr4 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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