[实用新型]一种荧光光谱的测试装置有效
申请号: | 201921612744.3 | 申请日: | 2019-09-25 |
公开(公告)号: | CN211292589U | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 薛占强;郭翠;潘奕 | 申请(专利权)人: | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市太赫兹系统设备有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01J3/44 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 李海宝 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型属于荧光光谱技术测试领域,尤其涉及一种荧光光谱的测试装置。荧光光谱的测试装置,用于获取待测材料的荧光光谱,其包括:激发结构,包括激发光源以及角度调节机构,激发光源用于生成预设波长的激发光束,激发光束以预设的入射角度入射待测材料表面,角度调节机构用于调节入射角度的值;旋转结构,用于固定待测材料,并根据用户输入的控制指令对待测材料和激发光源进行同步旋转;以及检测结构,用于接收待测材料生成的受激光束,并根据受激光束得到对应的荧光光谱。本实用新型通过分析在不同旋转角度下测得的荧光光谱,最终得到待测材料的角度分布特性。 | ||
搜索关键词: | 一种 荧光 光谱 测试 装置 | ||
【主权项】:
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