[实用新型]一种两级阶梯孔深度测量装置有效
申请号: | 201921547740.1 | 申请日: | 2019-09-18 |
公开(公告)号: | CN210268600U | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 李英晖 | 申请(专利权)人: | 北京利达瑞斯科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/18 | 分类号: | G01B21/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100000 北京市门*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种两级阶梯孔深度测量装置,包括底座和被测工件,所述底座的内表面设置有第一固定块,所述第一固定块的内表面设置有外层基准面套,所述外层基准面套的顶部固定连接有第二固定块,所述外层基准面套内壁的两侧之间设置有中间轴套,所述中间轴套的底部贯穿外层基准面套并延伸至外层基准面套的外部。本实用新型利用通过两级阶梯孔深度测量装置的几个关键零件都经过高精度加工,在加上选用高精度的位移传感器,该测量装置可以实现很高精度的阶梯孔深度测量;再加上两个阶梯孔是一次装夹,同时测量,只有一次定位误差,测量精度高,重复测量精度可以达到1‑2μm;测量效率高,两级阶梯孔一次完成测量,小于10秒/件。 | ||
搜索关键词: | 一种 两级 阶梯 深度 测量 装置 | ||
【主权项】:
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