[实用新型]一种可进行自清洁的电子分析天平有效

专利信息
申请号: 201921501063.X 申请日: 2019-09-10
公开(公告)号: CN210221273U 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 丁杭英 申请(专利权)人: 江苏中泰检测检验有限公司
主分类号: G01G23/00 分类号: G01G23/00
代理公司: 深圳市创富知识产权代理有限公司 44367 代理人: 曾敬
地址: 214400 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种可进行自清洁的电子分析天平,包括测量底座,测量底座上表面中间处固定安装测量台,测量底座上表面固定安装有支撑杆,支撑杆顶部固定安装玻璃盖板,支撑杆外侧壁固定安装玻璃板,支撑杆内侧壁焊接有固定杆,固定杆底部开设有第一凹槽,第一凹槽内壁套接螺杆,螺杆左端转动安装电机,侧壁固定安装底座,底座侧壁焊接支撑杆,第一凹槽内壁套接连接杆,连接杆侧壁开设螺纹孔,连接杆底端左右侧壁焊接固定板,固定板上表面固定安装喷枪,固定板侧壁右侧壁焊接纵向清洁装置,固定板右端底部固定安装加热棒,实现了自我清洁,除去测量部位灰尘的目的。
搜索关键词: 一种 进行 清洁 电子 分析 天平
【主权项】:
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