[实用新型]一种二极管阵列测试适配器有效

专利信息
申请号: 201921363248.9 申请日: 2019-08-21
公开(公告)号: CN211402614U 公开(公告)日: 2020-09-01
发明(设计)人: 冯振平 申请(专利权)人: 航天科工防御技术研究试验中心
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 王刚
地址: 100085*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种二极管阵列测试适配器,包括子板和母板;所述母板包括至少一个第一继电器和至少一个第二继电器;所述母板与测试系统相连;所述子板包括放置所述二极管阵列的测试插座;所述测试插座包括至少一个第一测试插孔和与所述第一测试插孔数量相等的第二测试插孔。通过这种设置,可以将所述二极管阵列中的多个二极管同时接入测试系统,使测试系统控制每组二极管连接的继电器的切换逐个完成二极管器件的参数测试,进而通过一次测试就能将4组二极管测试完成。
搜索关键词: 一种 二极管 阵列 测试 适配器
【主权项】:
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