[实用新型]一种用于磨削加工的光学测量系统有效
| 申请号： | 201921180616.6 | 申请日： | 2019-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN210650205U | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 马国欣 | 申请（专利权）人： | 广州市宇欣光电子技术研究所有限公司 |
| 主分类号： | B24B49/12 | 分类号： | B24B49/12;G01B11/24 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 刘巧霞 |
| 地址： | 511442 广东省广州市番禺*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于磨削加工的光学测量系统，包括照明光源、承物台、投影光学组件、显示屏、计算机，待加工工件放置在承物台上，磨削加工时，照明光源照明待加工工件，投影光学组件将待加工工件的图像投射在显示屏的显示平面上；计算机控制显示平面显示预存的工件参考标尺图形，并定位在定位基线上，将工件参考标尺图形与待加工工件的投影进行比对，根据比对信息调整磨削加工设备的位移，进行磨削加工。本实用新型对投影物镜倍率的要求相对宽松，在透明显示屏上可快速完成标定和调整，能够很好满足高精度的工件磨削加工对在线检测的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 磨削 加工 光学 测量 系统 | ||
【主权项】：
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