[实用新型]一种集成电路测试装置

摘要

本实用新型涉及集成电路检测技术领域，且公开了一种集成电路测试装置，包括安装框，安装框的上端固定连接有倒“U”形支撑架，支撑架的下端安装有测试仪，安装框内通过调节机构连接有四个定位块，定位块靠近安装框中心的拐角处开设有定位槽，四个定位槽内共同卡接有集成电路板；调节机构包括限位槽、限位块、调节杆、螺纹套和第一螺杆，两个限位槽对称开设在安装框内侧，四个限位块分别与两个限位槽滑动连接，调节杆的两端分别固定连接在两个相对应的限位块的侧壁上，螺纹套固定连接在调节杆的下端中心处，第一螺杆分别与两个螺纹套螺纹连接。本实用新型使得能够对不同规格的集成电路板检测。