[实用新型]一种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置有效
申请号: | 201921112686.8 | 申请日: | 2019-07-16 |
公开(公告)号: | CN210376104U | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 吴华昌 | 申请(专利权)人: | 深圳市华昌宇电子科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/95 |
代理公司: | 深圳迈辽知识产权代理有限公司 44525 | 代理人: | 赖耀华 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置,包括底板,所述底板顶部的两侧分别固定连接有第一竖板和第二竖板,所述底板的顶部且位于第一竖板和第二竖板之间固定连接有第一滑轨,所述第一竖板的一侧通过轴承转动连接有双向螺纹杆,并且双向螺纹杆远离第一竖板的一端固定连接有把手,双向螺纹杆外表面的两侧均螺纹连接有第一滑块,两个第一滑块的底部均与第一滑轨的外表面滑动连接,两个第一滑块的顶部均固定连接有横板,横板的顶部固定连接有夹紧装置。有益效果:可以对偏光片进行快速方便的夹紧固定,这样可以很好的防止偏光片在缺陷检测过程中发生移动给检测造成不便,更好的保证了偏光片缺陷检测工作的进行。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 光栅 成像 偏光 缺陷 检测 装置 | ||
【主权项】:
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