[实用新型]一种通用型SOP老化测试座有效
| 申请号： | 201921062993.X | 申请日： | 2019-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN210323274U | 公开（公告）日： | 2020-04-14 |
| 发明（设计）人： | 唐怀东;陈家锋;段超毅 | 申请（专利权）人： | 深圳凯智通微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 梁炎芳;谭雪婷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种通用型SOP老化测试座，包括上盖组件和下盖组件，上盖组件与下盖组件一侧铰接连接，上盖组件与下盖组件另一侧卡扣连接；下盖组件包括有底座、测试接触模组、及压块模组，测试接触模组位于底座中，压块模组位于测试接触模组上方；底座上设置有用于调节测试接触模组间距的Y向滑轨，底座上还设置有用于适应IC长度的X向卡位。本实用新型设置上盖组件和下盖组件，在下盖组件上设置可适用不同IC宽度的Y向滑轨，以及设置可适用不同IC长度的X向卡位，同时在上盖组件上设置弹性下压结构，上盖组件和下盖组件压合时，将IC引脚通过与金属弹片接触连接外部测试装置，测试效率高，能兼容不同型号IC，成本较低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通用型 sop 老化 测试 | ||
【主权项】：
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