[实用新型]一种折反式激光粒度仪

摘要

一种折反式激光粒度仪。采用激光散射法，解决颗粒粒度分布测量中，测量粒度分布范围小、激光粒度体积大、制作光学透镜和光电探测器阵列困难的问题。由激光器(1)发出的光经过扩束准直后形成平行光，照射在颗粒样品(2)区域，颗粒对光发生散射。颗粒的散射光经过第一透镜(3)后到达半透半反镜(4)，半透半反镜(4)与光路的光轴成45°摆放。半透半反镜(4)的透射和反射比为1∶1，即颗粒样品(2)的散射光有50％透过半透半反镜(4)。在半透半反镜(4)后面且位于第一透镜(3)的焦平面上放置第一光电探测器阵列(5)，用于接收颗粒样品(2)的散射光；在与光轴垂直的方向上设置第二透镜(6)，第二透镜(6)与第一透镜(3)组合成新的透镜组，其组合焦距根据颗粒测量范围要求确定，一般大于第一透镜(3)的焦距。在第一透镜(3)和第二透镜(6)的组合焦平面上放置第二光电探测器阵列(7)，经半透半反镜(4)反射和第二透镜(6)透射后的颗粒散射信号由第二光电探测器阵列(7)接收。由第一光电探测器阵列(5)和第二光电探测器阵列(7)接收的颗粒散射信号进行采集和计算机处理后得到颗粒散射角分布信号，经过计算机处理后得到颗粒粒度分布。