[实用新型]一种型号为ELEMENT GD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台有效
| 申请号: | 201920691812.3 | 申请日: | 2019-05-15 |
| 公开(公告)号: | CN210923569U | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
| 发明(设计)人: | 李建德;高丽荣;徐艳艳;赵秀芳;王小虎;张意;丰丹丹;蒋丽微;张鹏;张誉文 | 申请(专利权)人: | 国家硅材料深加工产品质量监督检验中心东海研究院 |
| 主分类号: | G01N27/68 | 分类号: | G01N27/68 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 222330 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本实用新型属于辉光放电质谱法测试技术领域,尤其是涉及一种型号为ELEMENT GD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台。包括高纯铜样品台本体,所述的高纯铜样品台本体上开有凹槽,所述的凹槽中设有焊锡。优点在于:通过在高纯铜本体开设凹槽,凹槽中放入适量焊锡,可以使小尺寸样品固定在高纯铜样品上,焊锡不会露出样品的下表面,避免了测试时焊锡对样品的影响。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 型号 element gd 辉光 放电 质谱仪 测试 尺寸 样品 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家硅材料深加工产品质量监督检验中心东海研究院,未经国家硅材料深加工产品质量监督检验中心东海研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201920691812.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。





