[实用新型]便于测试的激光芯片夹具

摘要

本实用新型公开一种便于测试的激光芯片夹具，包括底座、安装于底座上的弹片和位于弹片上方的压板，所述底座上开有供芯片嵌入的定位槽，所述弹片一端与底座连接，另一端与定位槽内的芯片抵接，所述压板与弹片挤压接触；所述压板包括主体部和若干个与弹片对应的弹性压条部，此弹性压条部连接在主体部上并与弹片挤压接触，一条形压块安装于主体部顶面并与底座连接；所述限位通槽端部设有两个凸块，此两个凸块分别对应于定位直角的两边并与芯片相邻两侧的侧面接触；两个所述凸块之间具有一走光缺口，此走光缺口位于定位直角的拐角处并与外部连通。本实用新型不仅能够精确定位芯片提高加工芯片，还能为芯片后续的光电测试提供走光通道，十分便捷。

主权项

1.一种便于测试的激光芯片夹具，其特征在于：包括底座（1）、安装于底座（1）上的弹片（2）和位于弹片（2）上方的压板（3），所述底座（1）上开有供芯片（8）嵌入的定位槽（4），所述弹片（2）一端与底座（1）连接，另一端与定位槽（4）内的芯片（8）抵接，所述压板（3）与弹片（2）挤压接触；/n所述压板（3）包括主体部（31）和若干个与弹片（2）对应的弹性压条部（32），此弹性压条部（32）连接在主体部（31）上并与弹片（2）挤压接触，一条形压块（5）安装于主体部（31）顶面并与底座（1）连接；/n所述底座（1）上表面具有一弹片限位板（6），此弹片限位板（6）上开有若干与弹片（2）对应的限位通槽（61），所述限位通槽（61）端部设有两个凸块（62），此两个凸块（62）分别对应于定位直角（41）的两边并与芯片（8）相邻两侧的侧面接触；/n两个所述凸块（62）之间具有一走光缺口（63），此走光缺口（63）位于定位直角（41）的拐角处并与外部连通。/n