[发明专利]一种基于损伤特征参数提取算法的裂纹损伤监测方法在审
| 申请号： | 201911422582.1 | 申请日： | 2019-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN111044471A | 公开（公告）日： | 2020-04-21 |
| 发明（设计）人： | 金博;张峰;张卫方 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司信息科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226 | 代理人： | 李明;赵吉阳 |
| 地址： | 100086 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种基于损伤特征参数提取算法的裂纹损伤监测方法，包括获取光纤光栅传感器的光谱，对光谱进行Hilbert变换得到主峰数目，并针对每一传感器对应的反射光谱峰值；通过对光纤光栅光谱的求取质心来近似求解光纤光栅光谱的中心波长；将采集到的光谱区域依据光谱能量一半的位置作为光谱边界进行划分，提取光谱宽度；在所确认的光谱边界范围内，提取该区域对应的有效光纤光栅光谱数据信息。本发明相对于现有技术其它方法，不容易受到设定阈值和求取斜率的影响，利用求取质心的办法近似求解光纤光栅光谱的中心波长，进一步校正了中心波长的偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 损伤 特征 参数 提取 算法 裂纹 监测 方法 | ||
【主权项】：
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