[发明专利]基于JPDA的调试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 201911419429.3 | 申请日： | 2019-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN111209198A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 崔海东 | 申请（专利权）人： | 五八有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区经济技术开*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于JPDA的调试方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：初始化快速调试入口；通过所述快速调试入口，获取用户输入需要调试方法的调试类型和关键参数；根据所述调试类型和关键参数，获取调用调试方法对应函数的函数信息，所述函数信息至少包括一种：堆栈信息、成员变量信息和局部变量信息；记录获取的所述函数信息，以及记录利用所述函数信息进行快速调试的流转步骤、时间和代码行数；根据用户输入的所述关键参数，按照时序可视化展示所述流转步骤、时间和代码行数的变化情况，完成快速调试。本发明通过可视化展示的调试运行中变量的变化情况，可以有效的快速定位到调试中的问题；省略了调试工具，提高了调试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 jpda 调试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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