[发明专利]用于数据库性能测试的方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 201911400939.6 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN113127312A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 余邵在 | 申请（专利权）人： | 北京金山云网络技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京博遵律师事务所 11761 | 代理人： | 马佑平 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于数据库性能测试的方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。该方法包括：对第一数据库部署测试运行环境，其中，所述第一数据库为待测试的数据库，所述测试运行环境为所述第一数据库的线上仿真环境；基于第二数据库的日志文件和配置文件生成对所述第一数据库的数据库请求，所述第二数据库为被仿真的数据库；基于所述数据库请求对处于所述线上仿真环境的第一数据库进行相应的数据处理操作；分析所述第一数据库基于所述数据处理操作产生的性能参数，以得到所述第一数据库的第一性能测试结果。本发明可以准确且方便、自动地给出数据库性能测试的评估结果。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 数据库 性能 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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