[发明专利]批量主板测试方法、控制终端、测试设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 201911387826.7 | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN111157874A | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 李军;路惠明;李静旭;林泽锋 | 申请（专利权）人： | 深圳TCL新技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 宋朝政 |
| 地址： | 518052 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种批量主板测试方法、控制终端、测试设备及可读存储介质，方法包括：通过逐个地向建立连接的多个待测试主板发送测试指令，采集待测试主板根据测试指令所输出的响应信号，并根据响应信号记录待测试主板的测试结果。这样，逐个地向建立连接的多个待测试主板发送测试指令，以获得待测试主板根据测试指令输出的响应信号，并根据响应信号记录待测试主板的测试结果，自动的实现对批量主板的测试，从而提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 批量 主板 测试 方法 控制 终端 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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