[发明专利]一种电子产品老化测试装置在审

专利信息
申请号: 201911370947.0 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN111123006A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 马善农;许邦莲;李达;吴光文;马玥明 申请(专利权)人: 东华理工大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/02
代理公司: 北京艾皮专利代理有限公司 11777 代理人: 冯铁惠
地址: 330013 江西省南*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明公开了一种电子产品老化测试装置,包括测试箱,测试箱内设有老化检测室、辅助室和驱动室,所述老化检测室上固定有多个固定板,多个固定板将老化检测室内部空间划分为多个检测腔,所述老化检测室内转动连接有转管,转管上固定有多个放置盘,所述测试箱顶部设有加湿组件,检测腔内设有光照组件,所述光照组件包括转动连接在固定板上的连接轴,连接轴上固定有第一套管,第一套管与夹板固定连接,夹板上设有灯具,连接轴的顶端与滑块铰接,滑块与滑轨滑动连接,所述滑轨的端部固定有限位板,滑块与限位板之间通过第一弹簧连接,第一套管背面与第一丝杆铰接,第一丝杆与测试箱内壁螺纹连接,提高了整体的功能性和实用性。
搜索关键词: 一种 电子产品 老化 测试 装置
【主权项】:
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