[发明专利]一种集成化的单片机芯片异常分析系统在审
| 申请号： | 201911365109.4 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN111123786A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 沈佑良 | 申请（专利权）人： | 无锡矽杰微电子有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/042 | 分类号： | G05B19/042 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 朱晓林 |
| 地址： | 214000 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及单片机芯片异常分析技术领域，尤其涉及一种集成化的单片机芯片异常分析系统，包括计算机和异常分析终端，异常分析终端包括供电单元、控制单元、AD检测单元、存储单元和显示单元；计算机用于输入测试命令；供电单元为异常分析终端供电；控制单元作为异常分析终端的处理器接收来自计算机的测试指令并根据测试指令对待测单片机芯片执行相应测试功能获得测试结果；AD检测单元用于实现3V/5V下功耗的测试；存储单元用于存储单片机的正确烧写程序代码并将其提供给控制单元用于程序区校验码测试；显示单元用于接收来自控制单元的测试结果并将其显示。本案能够实现对单片机芯片的自动化、集成化测试，测试效率和准确性高，测试成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成化 单片机 芯片 异常 分析 系统 | ||
【主权项】：
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