[发明专利]一种小型高性能空间探测质谱计有效

专利信息
申请号: 201911358714.9 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN111146070B 公开(公告)日: 2023-06-16
发明(设计)人: 李得天;董猛;成永军;裴晓强;习振华;张虎忠;马亚芳;刘珈彤 申请(专利权)人: 兰州空间技术物理研究所
主分类号: H01J49/06 分类号: H01J49/06;H01J49/20;H01J49/22;H01J49/32;H01J49/00
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 田亚琪
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了一种小型高性能空间探测质谱计,包括离子源、电场分析器、磁场分析器和离子流检测器;电场分析器产生的电场和磁场分析器产生的磁场相互正交嵌套;其中,电场分析器产生1/4圆环形的电场,电场方向为径向,磁场力FB是电场力FE的2倍,离子源出口至电场入口的距离l0,电场出口至离子流检测器的距离l1,l0=l1,且等于离子束偏转半径r的0.35倍;本发明能够在改善质谱计性能的同时实现质谱计的小型化。
搜索关键词: 一种 小型 性能 空间 探测 质谱计
【主权项】:
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