[发明专利]一种Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体外延片、包含该外延片的器件及其制备方法在审
申请号: | 201911349754.7 | 申请日: | 2014-11-06 |
公开(公告)号: | CN111129238A | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 郝茂盛;袁根如;奚明;马悦 | 申请(专利权)人: | 上海芯元基半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L33/32;H01L33/06;H01L33/00 |
代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人: | 王媛;钟守期 |
地址: | 201200 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种Ⅲ‑Ⅴ族氮化物半导体外延片,包括:1)衬底(101);2)外延缓冲层(102);3)多个半导体介质凸起(107);4)外延过渡层(108);和5)外延有效层,所述外延有效层自下而上含有n型外延层(109)、发光层(110)、与p型外延层(111)。本发明还提供该外延片的制造方法、包含该外延片的器件及其制备方法。本发明可以有效提高外延片晶体质量例如位错密度,并且能改善半导体器件的各项性能指标、尤其是发光效率、漏电流以及抗静电击穿性等。本发明的制备方法工艺简单,有利于降低制造成本,适用于工业生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 氮化物 半导体 外延 包含 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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