[发明专利]一种Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体外延片、包含该外延片的器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201911349754.7 申请日: 2014-11-06
公开(公告)号: CN111129238A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 郝茂盛;袁根如;奚明;马悦 申请(专利权)人: 上海芯元基半导体科技有限公司
主分类号: H01L33/12 分类号: H01L33/12;H01L33/32;H01L33/06;H01L33/00
代理公司: 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 代理人: 王媛;钟守期
地址: 201200 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种Ⅲ‑Ⅴ族氮化物半导体外延片,包括:1)衬底(101);2)外延缓冲层(102);3)多个半导体介质凸起(107);4)外延过渡层(108);和5)外延有效层,所述外延有效层自下而上含有n型外延层(109)、发光层(110)、与p型外延层(111)。本发明还提供该外延片的制造方法、包含该外延片的器件及其制备方法。本发明可以有效提高外延片晶体质量例如位错密度,并且能改善半导体器件的各项性能指标、尤其是发光效率、漏电流以及抗静电击穿性等。本发明的制备方法工艺简单,有利于降低制造成本,适用于工业生产。
搜索关键词: 一种 氮化物 半导体 外延 包含 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海芯元基半导体科技有限公司,未经上海芯元基半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911349754.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top