[发明专利]一种相位调制器的半波电压测量方法和测试系统有效
| 申请号： | 201911344557.6 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN111025000B | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 刘旭;曹林浩;孙小菡;柏宁丰;樊鹤红;沈长圣;董纳 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 施昊 |
| 地址： | 210096 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种相位调制器的半波电压测量方法和测试系统，测量方法的步骤依次为产生两束功率相同的激光；将两束激光耦合为一束光信号，并将该光信号输入待测的相位调制器；待测的相位调制器对光信号进行调制，将调制后的光信号进行密集波分复用技术处理，输出完好的的载波和一阶边带信号；将经过密集波分复用技术处理的光信号转换为电信号，并得到对应的电谱图和功率参数，根据功率参数计算半波电压。本发明通过数值计算的测量方法，能够有效提高测量精度；同时，本发明设计的测试系统光路结构简单，易于搭建，系统稳定，从而降低了测量成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相位 调制器 电压 测量方法 测试 系统 | ||
【主权项】：
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