[发明专利]端羟基有机硅羟值的测定方法在审
| 申请号： | 201911341096.7 | 申请日： | 2019-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN110988255A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 薛振华;武锦锋;沈忠权;刘小明;刘松柏;唐铭浩;陈云泥;钱年龙 | 申请（专利权）人： | 嘉兴禾大科技有限公司;嘉兴学院 |
| 主分类号： | G01N31/16 | 分类号： | G01N31/16;G01N31/22 |
| 代理公司： | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 | 代理人： | 王莹 |
| 地址： | 314003 浙江省嘉*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明的端羟基有机硅羟值的测定方法利用有机铋催化剂，让已知异氰酸酯基基团含量的多异氰酸酯与端羟基有机硅发生反应，通过测定残留异氰酸酯基基团含量就能反算得到端羟基有机硅羟值，并且测定残留异氰酸酯基基团含量时使用原料安全无毒，测试过程简便快捷，由于本发明的测定方法使用的缩聚反应和端羟基有机硅应用场合接近，因而所得羟值为有效羟值，具有更重要的实际意义。 | ||
| 搜索关键词： | 羟基 有机硅 测定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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