[发明专利]一种用于真空试验的光谱仪升降装置在审

专利信息
申请号: 201911315453.2 申请日: 2019-12-19
公开(公告)号: CN110887788A 公开(公告)日: 2020-03-17
发明(设计)人: 李炳强 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 尹庆娟
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种用于真空试验的光谱仪升降装置属于真空试验技术领域,目的在于解决现有技术存在的光谱仪器在真空罐内高度调整的问题。本发明的一种用于真空试验的光谱仪升降装置包括:底板;和所述底板垂直设置的支撑板,两个所述支撑板相对设置;以及固定板,所述固定板通过运动导向机构及运动驱动机构带动沿支撑板相对底板上下运动。本发明的一种用于真空试验的光谱仪升降装置可以动态调整光谱仪器的垂直高度,以满足实际试验的需求,另外底板可以和真空罐底板进行适配,大大减小试验的难度,便于试验的开展。本装置结构简单,成本低,适用于全场景下的光谱仪真空试验。能够便捷、准确地调整光谱仪器垂直高度的装置。
搜索关键词: 一种 用于 真空 试验 光谱仪 升降 装置
【主权项】:
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