[发明专利]一种用于真空试验的光谱仪升降装置在审
| 申请号: | 201911315453.2 | 申请日: | 2019-12-19 |
| 公开(公告)号: | CN110887788A | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
| 发明(设计)人: | 李炳强 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01 |
| 代理公司: | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人: | 尹庆娟 |
| 地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 一种用于真空试验的光谱仪升降装置属于真空试验技术领域,目的在于解决现有技术存在的光谱仪器在真空罐内高度调整的问题。本发明的一种用于真空试验的光谱仪升降装置包括:底板;和所述底板垂直设置的支撑板,两个所述支撑板相对设置;以及固定板,所述固定板通过运动导向机构及运动驱动机构带动沿支撑板相对底板上下运动。本发明的一种用于真空试验的光谱仪升降装置可以动态调整光谱仪器的垂直高度,以满足实际试验的需求,另外底板可以和真空罐底板进行适配,大大减小试验的难度,便于试验的开展。本装置结构简单,成本低,适用于全场景下的光谱仪真空试验。能够便捷、准确地调整光谱仪器垂直高度的装置。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 用于 真空 试验 光谱仪 升降 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911315453.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种硬质低气味PVC膜及其制备方法
- 下一篇:一种建筑桩基





