[发明专利]一种存储器测试装置有效
| 申请号： | 201911310450.X | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112349336B | 公开（公告）日： | 2023-09-15 |
| 发明（设计）人： | 姜曾;杨超;马天赐;刘建明;陈瑶;陈六赢 | 申请（专利权）人： | 成都华微电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/42;G11C29/50;G06F11/07 |
| 代理公司： | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人： | 刘勋 |
| 地址： | 610041 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于数字集成电路测试领域，具体涉及一种存储器测试装置。该测试装置包括：储器集成测试平台MITP和PC机，所述MITP包括Spartan6 FPGA最小系统、电源配电网络PDN、串口电路、LED电路和存储器测试接口电路。可用于FPGA配置存储器在常温环境下的全擦除及多种数据的全编程、校验、串并配置输出等功能测试，以及具有JEDEC标准的Nand Flash在不同工作模式下的全编程、棋盘或March校验等功能测试。能有效提高芯片的测试效率、降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 测试 装置 | ||
【主权项】：
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