[发明专利]芯片电路功耗测量电路及方法、芯片有效
| 申请号： | 201911309422.6 | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN110907807B | 公开（公告）日： | 2022-01-25 |
| 发明（设计）人： | 黄强;金军贵 | 申请（专利权）人： | 成都海光微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 610093 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种芯片功耗测量电路、芯片功耗测量方法及芯片。该芯片功耗测量电路包括：电压检测电路，包括第一电压检测器，被配置为根据第一输入电压产生第一输入电压检测值；单位电流获得电路，包括电流数值查找表，被配置为获取第一输入电压检测值及基于第一输入电压检测值利用电流数值查找表获得单位电流；倍乘系数获取电路，被配置为产生倍乘系数；以及芯片功耗计算电路，被配置为获得倍乘系数、单位电流、第一输入电压检测值，并使用倍乘系数、单位电流、第一输入电压检测值进行计算以用于得到功耗。该测量电路可以设置在芯片内，在芯片内测量各功能电路的功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 电路 功耗 测量 方法 | ||
【主权项】：
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