[发明专利]磁性位置测定系统和方法有效
| 申请号： | 201911278499.1 | 申请日： | 2019-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN111322937B | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | J·施密特 | 申请（专利权）人： | 亚德诺半导体国际无限责任公司 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 郭万方 |
| 地址： | 爱尔兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及磁性位置测定系统和方法。提供用于确定磁体的位置的系统和方法。该系统和方法利用位于第一传感器位置并被布置为测量由磁体产生的磁场的至少两个分量的第一传感器，位于第二传感器位置并被布置为测量由磁体产生的磁场的至少两个分量的第二传感器、以及可操作地连接到第一和第二传感器以接收从第一和第二传感器输出的信号衍生的信号的处理电路。从第一场维度的第一微分场和正交于第一场维度的第二场维度的第二微分场来计算场角。基于由第一和第二传感器输出的信号来计算第一和第二微分场。 | ||
| 搜索关键词： | 磁性 位置 测定 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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