[发明专利]一种集成电路电磁发射多角度测试夹具有效

专利信息
申请号: 201911265943.6 申请日: 2019-12-11
公开(公告)号: CN110888043B 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 张娜娜 申请(专利权)人: 上海华碧检测技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 天津铂茂专利代理事务所(普通合伙) 12241 代理人: 陈晓蕾
地址: 200433 上海市杨*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,涉及集成电路电磁发射用技术领域,针对集成电路电磁发射检测过程中夹具多角度调整的问题,现提出如下方案,包括壳体,所述壳体的底部内壁上固定连接有双轴电机,所述双轴电机的右输出端安装有第一转轴,所述第一转轴的右端安装有主动皮带轮,所述主动皮带轮的下方设有从动皮带轮,所述从动皮带轮的左侧通过螺栓连接有第二转轴,所述第二转轴的左端安装有主动锥齿轮。本发明通过各种结构的组合不仅可以对集成电路的电磁发射的检测进行多角度全方位的全面检测,提高了集成电路流入市场产品的合格率,且本装置可以对不同规格的集成电路进行夹紧检测,扩大了本装置的使用范围。
搜索关键词: 一种 集成电路 电磁 发射 角度 测试 夹具
【主权项】:
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