[发明专利]一种三维共聚焦的微束X射线衍射仪在审
| 申请号: | 201911251089.8 | 申请日: | 2019-12-09 |
| 公开(公告)号: | CN110907483A | 公开(公告)日: | 2020-03-24 |
| 发明(设计)人: | 程琳;姜其立;刘俊;帅麒麟 | 申请(专利权)人: | 北京师范大学 |
| 主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207;G01N23/20091;G01N23/20025;G01N23/20016;G01N23/223;G01N23/2206;G01N23/2204 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 100875 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明涉及一种三维共聚焦的微束X射线衍射仪,包括:X射线源系统,X射线滤波片,毛细管会聚X光透镜,毛细管X光半透镜或平行束透镜,测角仪,三维样品台,X射线能谱探测器,控制系统和计算机;其中,样品置于样品台上;所述X射线源系统,X射线滤波片和毛细管会聚X光透镜位于同一直线上并安装在所述测角仪一侧;所述毛细管半透镜或平行束透镜和X射线能谱探测器位于同一直线上并安装在所述测角仪另一侧;所述X射线能谱探测器与计算机电连接;所述控制系统与所述三维样品台,测角仪和计算机电连接。具备三维共聚焦的微束X射线衍射和微束能量色散X射线荧光两种分析模式,能实现小样品或样品表面微区或内部一定深度处的元素和物相分析。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 三维 聚焦 射线 衍射 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京师范大学,未经北京师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911251089.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。





