[发明专利]一种光学相干断层成像方法有效
| 申请号： | 201911238001.9 | 申请日： | 2019-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN110881947B | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 杨强;祝连庆;朱疆;樊凡;端木正 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | A61B3/10 | 分类号： | A61B3/10;A61B3/12;A61B3/14;A61B5/00;G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 | 代理人： | 陈亚斌;关兆辉 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光学相干断层成像方法。该方法包括：使用会聚的物光束逐点横向扫描样品，并通过成像装置同步记录样品上各个扫描点的宽场背向散射光与参考光干涉后的干涉信号，形成各个扫描点的光谱干涉图像；对各个扫描点的光谱干涉图像进行快速傅里叶变换，获取各个扫描点对应的光场复振幅分布；按扫描次序将各个扫描点对应的光场复振幅分布组合成为散射介质的背向传输矩阵；对背向传输矩阵进行奇异值分解，从矩阵信号中提取主成分信号，并去除多重散射噪声信号；根据所提取的主成分信号，计算得到物光焦平面处的三维断层图像。应用本发明可以实现组织深层成像，提高成像深度和成像速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 相干 断层 成像 方法 | ||
【主权项】：
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