[发明专利]一种宽带高分辨率光谱响应测量方法有效
| 申请号： | 201911237519.0 | 申请日： | 2019-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN110926511B | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 王大勇;杨锋;王云新;侯雪缘;戎路;赵洁 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01D5/353 | 分类号： | G01D5/353 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 吴荫芳 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种宽带高分辨率光谱响应测量系统及方法，属于光谱响应测量和微波光子学领域，用于解决现有方法测量范围窄、测量分辨率低和仅能测量带阻光器件的问题。具体技术方案为：细步进可调光源发出的光载波进入双平行马赫‑曾德尔调制器，细步进射频源结合微波90°耦合器得到两路射频信号，并分别输入上下两个子调制器，通过偏置控制电路调整偏置电压，产生载波抑制单边带信号。该信号通过50：50保偏耦合器分成上下两路光信号，上路通过待测器件后进入光电探测器；下路经过1:99保偏耦合器后，1％的信号作为反馈信息进入偏置控制电路，99％的信号进入光电探测器。控制与信号采集电路对输入的两路电信号进行平衡探测，从而得到待测器件的光谱响应。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 宽带 高分辨率 光谱 响应 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学，未经北京工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911237519.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种雨水泵站底部自动清污防板结系统
- 下一篇：一种手术敷料清点装置
